精微制造
用以提高自动化集成电路测试产量的V93000 Direct-Probe™ 高并行探针卡
High Parallelism Probe Card on V93000 Direct-Probe™ System to Increase Testing Throughput on Automotive ICs
12 月 4, 2022
—
由
探针
于
工业探针
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物理科学的不断进步正在创造新一代的半导体和磁性材料，以满足人们对更高速度、更大容量、更低功耗和更高性能的需求。研究的初期阶段开始于将样品材料置于极低的低温条件下（在绝对零度的几度之内)，测量基本的电迁移特性。然而在进行这些测量时，具有磁特性的材料将同时暴露在高磁场中，因此，材料研发实验室需要能够体现这些极端采样环境的测试与测量系统。
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